Hast高压加速老化试验箱

产品介绍:

HAST试验箱是在非饱和湿度（65%~100%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。

一般用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等，若待测品是半导体，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中。

执行标准:

● JESD22-A100 循环温湿度偏置寿命 ● IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分：稳态湿热（不饱和加压蒸汽）

● ESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 ● JESD22-A103-E 高温贮存寿命

● JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试 ● JESD22-A113l 非热表面贴装器件可靠性测试前的预处理

● JESD22-A110 高加速温湿度应力试验（HAST） ● IPC-J-STD-020 非气密表面贴装器件潮湿/再流焊敏感度分级

● JESD22-A108 温度，偏置电压，以及工作寿命（IC寿命试验）

● JESD22-A118 加速水汽抵抗性-无偏压HAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）

● GB-T 2423.40-1997 电子产品试验 第2部分：未饱和高压蒸汽恒定湿热

产品规格书: