PCT高压加速老化试验箱是一种用于模拟极端高温、高湿及高压环境的精密测试设备,
主要用于评估电子元器件、半导体封装、磁性材料、PCB线路板等产品在严苛条件下的密封性、耐湿性及长期可靠性。其核心原理是通过在高于100℃的温度和100%RH的湿度状态下增加压力来测试新材料的耐湿性、开发时的比较试验、电子零件的保管试验等、批次缺陷的判别;可用于引脚、材料、电镀等表面处理的评价试验、各种涂层相关的材料劣化加速试验等广泛领域的产品的可靠性和故障机制,从而在短时间内暴露产品潜在缺陷,如“爆米花效应”、金属腐蚀、绝缘层降解等。
· IEC 60068-2-66 (环境试验: 试验Cx: 稳态湿热)
· JESD22系列 (固态产品可靠性测试标准)
· GB/T 2423.40-2013:《环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热》
· GB/T 2423.3-2016:《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验》
· GB/T 10586-2006:《湿热试验箱技术条件》
· GB/T 41203-2021:《光伏组件封装材料加速老化试验方法》
· GJB 150.3A-2009:《军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验》
